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Design-for-Test

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	칩설계 완료후 칩기능의 정확성을 다시 한번 확인하게 하기 위한 방법론
	칩의 테스트 용이성을 위해 Test logic( RTL혹은 Gate level) 부분추가
	칩의 결함을 찾아내기 위해 칩에 적용되어질 Test set 생성
	실패 분석을 용이하게 하는 DFT기반의 진단법

ATPG & Compression	TestKompress FastScan DFTAdvisor FlexTest
Memory Test	MBISTArchitect MacroTest
Boundary Scan	BSDArchitect
Logic BIST	LBISTArchitect
Yield Learning and Diagnosis	YieldAssist